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產(chǎn)品展示-
- 大灰度測(cè)試卡
大灰度測(cè)試卡尺寸為8.5 “ x 11 “，采用白色相紙材質(zhì)，由一組不等的灰階圖組成，可用來方便的測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)的灰度等級(jí)特性，有15個(gè)密度等級(jí)，光密度從0.09到1.5，共有兩行灰階，一行從高光 密度到低光密度，另一行從低光密度到高光密度，相鄰灰度光學(xué)密度遞增或遞減0.10，光密度之間的變化是線性的，反映了光線反射率的對(duì)數(shù)變化。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- 反射式掃描測(cè)試靶
反射式掃描測(cè)試靶可用來測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- Spectralon®白平衡和漫反射目標(biāo)板
Spectralon®白平衡和漫反射目標(biāo)板可用于各種工業(yè)、實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，包括成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)、背光照明、激光目標(biāo)板、光學(xué)反射器、遙感和近距離傳感器。這些目標(biāo)板在整個(gè) UV-VIS-NIR 波長(zhǎng) （350 - 1600nm） 范圍內(nèi)具有 99% 的反射率，并在整個(gè)校準(zhǔn)波長(zhǎng)區(qū)域展現(xiàn)高反射率。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- 表面光潔度對(duì)照卡
表面光潔度對(duì)照卡有30個(gè)對(duì)照樣品，規(guī)格為7/8“ x 3/8“，采用在基材上電鍍鎳層工藝，可迅速評(píng)估6種常見的機(jī)械加工表面光潔度，如叉表面、絞刀擴(kuò)孔表面、磨削表面、以及冷扎表面等，對(duì)應(yīng)著公制Ra（微米級(jí)），英制為A*（micro-inches）。各種表面類型都是由我們的能工巧匠精心制作，精度在標(biāo)稱值的±10%之內(nèi)。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- 棋盤格校準(zhǔn)目標(biāo)板
棋盤格校準(zhǔn)目標(biāo)板用于二維工業(yè)和機(jī)器視覺相機(jī)的校準(zhǔn)，用于檢測(cè)圖像畸變或傳感器問題，以保證測(cè)量精度。這些棋盤格目標(biāo)板采用堅(jiān)硬的象牙色和乳白色玻璃基片，因此不會(huì)使圖案彎曲。這些棋盤格目標(biāo)板能*地降低背射陰影的影響，使它們成為具有廣泛視場(chǎng)的成像系統(tǒng)反射照明校準(zhǔn)的理想選擇。這些目標(biāo)板提供各種尺寸，以補(bǔ)充視場(chǎng)較大或較小的相機(jī).
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- OCT 成像系統(tǒng)
OCT 成像系統(tǒng)是一體式分辨率光學(xué)相干斷層掃描成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)作為昂貴而復(fù)雜的裝置的實(shí)惠替代品，能以行業(yè)領(lǐng)xian的價(jià)格提供具有競(jìng)爭(zhēng)力的分辨率、幀速率和功率規(guī)格。本產(chǎn)品的激光在840nm處聚焦，特別適合在空氣中2.8mm的深度以及2mm的組織中進(jìn)行檢測(cè)。本產(chǎn)品具有5μm的軸向分辨率和15μm的橫向分辨率，性能能與昂貴得多的裝置相媲美。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
